集成電路IC芯片溫度沖擊測試機氣流儀

高低溫沖擊氣流儀的性能達到了更高的標準。TS-580以速度、精度和可靠性作為基本設計標準，提供了非常*的溫度測試能力。溫度轉換從-55℃到+125℃之間轉換約10秒，并有更廣泛的溫度范圍-80℃到+225℃; 經長期的多工況驗證，滿足更多生產環境和工程環境的要求。TS-580是純機械制冷，無需液氮或任何其他消耗性制冷劑。

應用

　　特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗，如：芯片、微電子器件、集成電路（SOC、FPGA、MCU、PLD、ADC/DAC、DSP等）閃存Flash、UFS、eMMCPCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件光通訊（如：收發器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）其它電子行業、航空航天新材料、實驗室研究

集成電路IC芯片溫度沖擊測試機氣流儀特點

　　溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉換約10秒

　　有效溫度范圍，-80℃至+225℃

　　結構緊湊，移動式設計·觸摸屏操作，人機交互界面

　　快速DUT溫度穩定時間·溫控精度±1℃，顯示精度±0.1℃

　　氣流量可高達18SCFM

　　除霜設計，快速清除內部的水汽積聚

測試標準

　　滿足美國標準MIL體系測試標準

　　滿足國內元件GJB體系測試標準

　　滿足JEDEC測試要求