近紅外熒光光譜儀

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公司名稱HORIBA 科學儀器事業部
品牌HORIBA
型號NanoLog®
所在地上海市
廠商性質生產廠家
更新時間2025/2/27 8:50:38
訪問次數1040

產品標簽:

熒光光譜儀近紅外熒光光譜儀

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公司介紹主營產品

成立于1819年，Jobin Yvon公司的總部設在高科技發達的法國首都――巴黎。在近二百年的發展中，Jobin Yvon公司始終遵循著創建以來的一貫宗旨——高品質，為客戶提供優質產品：

· 1900年世博會上的干涉儀、光彈性測量儀
· 1962年雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀
· 1968年商品化全息光柵
· 1973年相差校正全息光柵（榮獲IR100獎）
· 1977年拉曼分子顯微探針（IR100獎），順序掃描型ICP光譜儀
· 1975年全計算機化光子計數拉曼光譜儀和全計算機化光子計數熒光光譜儀
· 1983年離子刻蝕“閃耀”全息光柵
· 1985年光柵型波分復用器
· 1989年超級校正全息光柵和二維成像光譜儀
· 1996年榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎
· 1998年可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀（獲激光儀誘導發光技術獎）
· 1998-1996年收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司
· 2001年獲得美國宇航局（NASA）頒發“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻獎”
· 2002年世界FTIFR聯用拉曼光譜儀，在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎
· 2002-2003年收購德國Philips橢偏儀公司和IBH（英格蘭）公司
· 2006年美國宇航局（NASA）噴射推進實驗室頒發“運行碳觀測器（OCO）衍射光柵杰出貢獻獎”

HORIBA歐洲總部

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司，完成了公司強強聯手。

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家。現在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統（System）及各種光學光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。

目前，HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障！

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科學儀器：拉曼光譜分析，拉曼光譜設備，熒光光譜儀，粒度分布儀，粒度分析儀

產品簡介在線詢價

產地	進口	產品新舊	全新
色散單元	光柵

HORIBA NanoLog®近紅外熒光光譜儀：NanoLog®系列儀器專門用于納米技術和納米材料的前沿研究，NanoLog®可以檢測到800-1700nm的近紅外范圍，可選~2μm的多通道檢測器和~3μm的單通道檢測器，同時也可實現紫外-可見區熒光光譜測量。

近紅外熒光光譜儀產品信息

HORIBA NanoLog®近紅外熒光光譜儀儀器簡介：

HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術）----熒光光譜儀器的供應商，提供全套穩態、瞬態和穩-瞬態以及各種偶聯技術的解決方案。

借助于成熟的FluoroLog®技術，Nanolog®采用模塊化設計，即可實現穩態測量，也可實現瞬態測量（TCSPC技術），系統搭配成像光譜儀，可實現紅外三維熒光快速測量。

NanoLog ®系列儀器專門用于納米技術和納米材料的前沿研究，NanoLog ®可以檢測到800-1700nm的近紅外范圍，可選~2μm的多通道檢測器和~3μm的單通道檢測器，同時也可實現紫外-可見區熒光光譜測量。專為單壁碳納米管（SWNTs）設計的NanoSizer®軟件，可計算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內徑分布，并且在微秒時間內就能獲得完整的二維光譜圖，1秒內獲得的激發-發射三維熒光光譜圖。

可選附件：
· 超連續激光光源
· 液氮杜瓦瓶
· HPLC流通池
· 光纖導入支架
· 多芯光纖
· 四位電磁攪拌控溫樣品架
· 兩位電磁攪拌控溫樣品架
· 單池電磁攪拌控溫樣品架
· 固體樣品架
· 積分球
· 停留附件
· 顯微鏡耦合部件
· 多孔板閱讀器
· 鉑爾貼控溫裝置
· 外部觸發裝置
· 自動滴定注射附件
· 1~5/50/250μL微量樣品池
· 截止濾光片
· 偏振片附件
· 低溫附件

HORIBA NanoLog®近紅外熒光光譜儀技術參數：
· 450W的大功率連續氙燈，涵蓋UV~NIR波長范圍
· 快速獲得全波長范圍激發-發射三維熒光圖
· Symphony II InGaAs陣列檢測器：800~1700nm；規格可選：256×1，512×1和1024×1，單像元25µm；噪音水平：650e-rms （液氮制冷）；可選電制冷；擴展范圍可選（1.1-2.2µm）
· iHR320發射光譜儀：焦長=320mm；f/4.1；線色散=2.64nm/mm；分辨率=0.06nm；全軟件控制三光柵塔輪（所有測定在光柵刻線數1200gr/mm條件下）
· 固態近紅外檢測器，光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測定，采用時間相關單光子計數技術測定熒光壽命范圍：100ps~1ms（UV~NIR）；磷光壽命范圍1us~>10s（UV~NIR）

主要特點：
· 一秒內獲得激發-發射三維光譜
· 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測器
· 高光譜分辨率
· 易于實現SWNTs的定性和定量分析
· 可選多種檢測器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測需求：

- PMT用于高靈敏度和時間分辨的測量
- InGaAs陣列檢測器用于NIR數據的快速采集
- CCD陣列檢測器用于UV-Vis數據的快速采集
· 同時解析量子點
· 易于實現能量轉移研究
· 模塊設計以滿足不同實驗的需求

注：具體配置、價格請咨詢當地銷售工程師

關鍵詞：顯微鏡紅外光譜