ELSZ2000粒度儀-激光粒度儀-激光粒度分析儀 產(chǎn)品描述：
Otsuka ELSZ2000粒度儀-激光粒度儀-激光粒度分析儀 是一套功能強(qiáng)大且多用途的界達(dá)電位&粒徑 測量系統(tǒng)，能高精度地測量稀溶液到濃溶液的zeta電位和粒徑，此外還新增加了分子量分析功能(粒徑:0.6nm-10um/濃度范圍:0.00001%-40%)。電滲透測量能夠使用微體(130ul)一次性電池對zeta電位進(jìn)行高精度分析。此外，新的自動溫度梯度功能，擴(kuò)大了0℃和90℃之間的范圍，使熔點(diǎn)和相變點(diǎn)分析成為可能。
工作原理：
粒徑的原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）。分散在溶液中的微粒通常會發(fā)生布朗運(yùn)動。較大的粒子運(yùn)動較慢，較小的粒子運(yùn)動較快。當(dāng)激光在布朗運(yùn)動的影響下照亮粒子時，來自粒子的散射光會顯示出與單個粒子相對應(yīng)的波動。根據(jù)光子檢測方法觀察到波動，從而計算出粒徑和粒徑分布。
Zeta電位測量原理：激光多普勒法。在大多數(shù)情況下，膠體顆粒具有正電荷或負(fù)電荷。當(dāng)將電場施加到顆粒分散體時，顆粒沿相反電荷的方向遷移。隨著粒子在遷移過程中受到照射，散射光會根據(jù)電泳遷移率引起多普勒頻移，該方法稱為激光多普勒法。
電滲透表示在zeta電勢測量后細(xì)胞內(nèi)部發(fā)生的液體流動。如果細(xì)胞壁帶電，則介質(zhì)中的抗衡離子會遷移到細(xì)胞壁。這是抗衡離子遷移到細(xì)胞壁中的一個電極并遷移到細(xì)胞中心附近的另一電極的現(xiàn)象。通過測量表觀電泳遷移率并分析電滲，有可能獲得考慮到染色細(xì)胞的正確固定層并計算正確的界達(dá)電位。
使用高濃度電池的Zeta電位測量原理在于，由于多重散射或吸收效應(yīng)，過去很難測量非常濃稠或著色的樣品。目前，ELSZ系列的標(biāo)準(zhǔn)樣品池能夠測量較寬的樣品濃度范圍。此外，可以通過FST方法測量高度濃縮樣品的Zeta電位。
產(chǎn)品亮點(diǎn)：
- 通過型的高靈敏度APD提高感光度，大大縮短了測量時間
- 搭載自動溫度梯度測量功能，可分析變性、變相溫度
- 可測量0~90℃寬闊的溫度范圍
- 增加了大范圍分子量測定及解析功能
- 可測量懸濁的高濃度樣本粒徑、界達(dá)電位
- 由實(shí)測Cell內(nèi)電滲透的圖示化分析，可提供高精度界達(dá)電位測量結(jié)果
- 對應(yīng)高鹽濃度溶液界達(dá)電位
- 對應(yīng)小尺寸樣本平板界達(dá)電位測量
應(yīng)用范圍：
- 納米生物、醫(yī)藥領(lǐng)域
- 納米材料、新機(jī)能性材料領(lǐng)域
- 食品、化妝領(lǐng)域
- 高分子、化學(xué)工業(yè)領(lǐng)域
- 精密陶瓷、顏料工業(yè)領(lǐng)域
- 半導(dǎo)體領(lǐng)域
技術(shù)參數(shù)：
測量參數(shù)
- Zeta電位：-200 ~ 200 mV
- 遷移率：-20 x 10^-4 ~20 x10^-4 cm^2/V/S
- 粒徑：0.6nm~10000nm
- 分子量：360~2000 x 10^4
- 溫度：0 ~ 90℃
- 濃度：粒徑（0.00001%（0.1ppm）~40%）、Zeta電位：0.001%~40%
- 電源：100V±10%，50/60Hz，250VA
- 尺寸：380W x 600D x 210H
- 重量：約22kg
升級選項：
- pH滴定儀測量
- dn/dc測量
- 各類Cell（微式、可拋式、粒徑微量、粒徑Flow、平板用、低導(dǎo)電率用等）
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