顯示屏光電性能測試儀-平板顯示自動光學測試儀-SS410 產品描述：

顯示屏光電性能測試儀-平板顯示自動光學測試儀-SS410 （OMM，光學測量模塊）是Microvision 提供的一個綜合測試型模塊，最多可以配置三個功能器件，包括CCD相機、光譜輻射計和響應時間模塊(RTM)，分別對應不同的測試功能，CCD相機主要用于空間測量，包括點分析、線寬、收斂、時間方差、MTF等；光譜輻射計主要用于測量亮度、色度、均勻度、光譜圖、Gamma、對比度等；RTM用于時間測量，包括運動/模糊、上升時間、下降時間、灰度轉換時間、閃爍等，可根據具體測量需求進行組合。Mircovision SS410可以單獨安裝在支架上進行單點測量，也可以安裝在位移臺上，用于自動測量顯示屏的不同位置。

工作原理：

SS410光學模塊可容納三個可選的測量設備：一個高分辨率的二維CCD相機、一個衍射光柵光譜儀和響應時間模塊或RTM。CCD相機是一種用于空間測量的二維陣列，其高倍放大功能可以詳細分析顯示特性，例如字符對比度、收斂性、線寬、抖動、射束著陸等，還用于測量顯示的較大尺寸幾何圖形的參數。光譜儀使用衍射光柵和光纖透鏡組件來收集光學信息，僅用于顏色和亮度的測量。響應時間模塊（RTM）包含一個光電二極管檢測器，并包含一個類似CCD相機的光學系統。RTM的主要功能是測量各種LCD顯示器的灰度和升降時間。該設計中包含了對視頻處理的控制，這一特性可以實現與UUT真正的幀同步，測量數據可以逐幀地采集和處理。

升級選項：

• 精準位移臺（搭配位移臺，可精確位移從而實現自動測試）
• 標準測量（VESA FPDM 2.0，TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0，ISO 9241-3XX，ISO 13406）
• DUT位移臺（DPS-1顯示位移臺，可以調整DUT x,y,z軸位置，并可調整角度，精度為0.1°）
• 完整測量系統（搭配其他組件，組成SS430系統）
• 提升測量范圍（適用ND濾光片，提高感光器件的測試范圍）

技術參數：

CCD相機

• 圖像傳感器：1392×1040 像素
• 數字視頻：12-位
• 元件尺寸：6.45 μm/像素
• 同步性：同步捕獲
• 濾鏡：適光性 50%, 20%, 10% & 1% ND
• 標準鏡頭：25mm C mount, f1.6 – f16
• 視場：11mm,可調節
• 工作距離范圍：0.5~3.5 m
• 亮度精度：± 4% @ 2856K Ill.A
• 亮度范圍：0.05 ~ 10⁶ cd/m² （含ND濾鏡）
• 測量時間：對于多數測量<1 sec

Spectrometer光譜輻射計

• 波長范圍：380 ~ 780nm (1000nm可選)
• 亮度范圍：0.01 ~ 500K cd/m²
• 亮度精度：±3% @ 2856K Ill.A
• 亮度重復率：超過30分鐘RSD < 0.5%,0.01 cd/m²靈敏度@ 3% RSD
• 色彩準確度：±0.002 @ 2856K Ill.A
• 色彩重復率：±0.0005 @ 2856K Ill.A
• 溫度管理：電腦自動控制
• 光學器件：12mm 準直
• 視場角：1.5°
• 數字分辨率：16 bit A/D
• 積分時間：16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)
• 光學分辨率：3.8nm半高寬 @ 100μm狹縫
• 校準：NIST可追溯
• 操作溫度：5~ 30℃

RTM 時間響應模塊

• 光型：低噪聲，快速響應光電二極管
• 樣品頻率：1MHz Max. (500kHz可選)
• 分辨率：16位
• 探測器響應：20kHz(濾波)
• 瞬變時間：0.1ms ~ 4s（0.01ms可選RTM-HS）
• 同步性：軟件和外部選項
• 重復性：3%
• 亮度范圍：0.01 ~ 50Kcd/m²

測試案例: