TS-140+40/LP 產(chǎn)品描述：
臺式主動隔振平臺-主動隔震平臺-主動除振臺-TS-140+40/LP/TP25 是一款緊湊型動態(tài)隔振系統(tǒng)，可用于抵消工作環(huán)境對高靈敏度精密設備產(chǎn)生的不必要振動，以提高精密設備的工作性能，使用簡便，具有優(yōu)異的隔振性能及通用性。
桌上型主動減振臺TS-140+40適用于各類透射式電子顯微鏡(TEM)、掃描式電子顯微鏡(SEM)、發(fā)射式電子顯微鏡、探針顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡（AFM）、橫向力顯微鏡、白光干涉儀，光刻機，微納米結構和加工儀器！超低頻隔震臺、防震臺、減震臺、除震臺,隔振臺，主動隔振臺，主動減振臺，主動防震臺，主動防振系統(tǒng)。
TS-140+40/LP工作原理：
主動減振臺 TS 系列采用的隔振技術，可以隔離6個空間方向的振動（包括水平方向和垂直方向），TS 系列隔振臺利用控制器內(nèi)的壓電加速傳感器將外界振動的壓力信號轉換為電信號發(fā)送至隔離模塊中的壓電換能器中，隨后壓電換能器將產(chǎn)生一個與傳入壓力大小相等，方向相反的壓力信號來消除傳入振動。隔振系統(tǒng)利用一個反饋回路消除隔振系統(tǒng)的機械共振。
產(chǎn)品特點：
- 六個自由度隔振
- 研究級壓電傳感技術
- 即插即用系統(tǒng)
- LCD實時顯示（振動水平，重量分布等）
- 主動隔振性能突出
- 集成簡便
- 專注科研，無需安裝和維護
應用范圍：
- 原子力顯微鏡
- 掃描探針顯微鏡
- 干涉測量
- 熒光顯微鏡
- 摩擦學和納米壓痕測試
- 高精度測量
- 高分辨率顯微鏡
- 輪廓測量
- 試管受精
臺式主動隔振平臺-主動隔震平臺-主動除振臺-TS-140+40/LP/TP25 技術參數(shù)：
- 型號：TS-140+40/LP
- 系統(tǒng)配置：整合
- 主動隔振范圍：頻率大致為 0.7 ～ 300 Hz (超過300 Hz為被動隔振)
- 幅度: 20 um (垂直和水平)
- 高度調節(jié)：自動
- 搬運或運輸期間鎖定：自動鎖定功能
- 隔振條件：可在前顯示屏上觀察到。可通過將示波器連接到后面板上的BNC 插座觀察8 軸振動狀態(tài)。
- 安裝板尺寸：500 (W) x 600 (D) mm
- 整體尺寸 (大約)：500 (W) x 600 (D)x 84 (H) mm
- 負載能力(同等 /低重心）：50 -170kg（考慮到負載上的偏心重量，請在負載能力80% 范圍內(nèi)使用）
- 系統(tǒng)重量 (大約)：29 kg
- 輸入電壓：90 ～ 120 ＶAC, 200 ～ 240 VAC, 43-60 Hz
- 功耗：隔振期間 10 W，負載調整期間 20 W
- 溫度范圍：5 ℃ ～ 40 ℃
- 相對濕度：10 ～ 90 %（5 ～ 30 ℃）,10 ～ 60 %（30 ～ 40 ℃）
- 服務場所：僅用于室內(nèi)
- 工作高度：高達2,000 m
- 選項1 TP25 安裝板: 鐵磁拉絲不銹鋼410 表面, 無漆,
- M6-25 mm XY 矩陣鉆孔和螺孔，有效攻絲深度: 6 mm
- 選項 2 遙控盒
- 選項 3 內(nèi)置減振功能的高剛性框架
主動減振臺升級選項：
- 工作臺集成 （包括架子，監(jiān)控器支架，鍵盤托盤等）
- 隔音箱集成 (如靜噪器，AEK-2002及定制隔音設備)
- 定制面板尺寸及材料 （通常為阻尼鋁板，面板可定制不銹鋼，鐵磁鋼，可打孔）
- 振動器集成（激勵源）
- 遠程顯示 （重量分布，內(nèi)部電機調平，X/Y/Z軸振動水平，啟動/關閉組件，開關隔振臺）
- 遠程電源 （免受電磁噪音或熱量干擾）
臺式主動隔振平臺-主動隔震平臺-主動除振臺-TS-140+40/LP/TP25 隔振效果：
主動減振臺性能對比圖：AFM 的研究人員在兩種條件下進行成像： 不含隔振系統(tǒng)和包含TS 系列隔振臺。當使用TS系列隔振臺搭載AFM時，所得圖像表明圖像質量和整體測量清晰度得到大幅提升。
主動減振臺-隔振臺-防震臺-TS-140+40與配套使用隔音箱，有效提高測試環(huán)境。
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