測(cè)試模式:
- 單點(diǎn)光譜采集
- 二維表面mapping測(cè)量
- 三維共焦成像與深度分析
- 時(shí)間分辨光譜測(cè)量
產(chǎn)品主要參數(shù):
- 研究級(jí)光學(xué)顯微鏡,CCD相機(jī)進(jìn)行樣品成像觀測(cè)
- 手動(dòng)/自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)
- 多種激光器,光譜儀以及探測(cè)器選項(xiàng)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
- 靈活,高度定制化,以滿足不同應(yīng)用的特殊需求
- 緊湊的光路設(shè)計(jì)信號(hào)收集效率,快速獲得測(cè)試結(jié)果
- 操作簡(jiǎn)便,無(wú)需復(fù)雜的測(cè)試流程及培訓(xùn),輕松上手
- 擴(kuò)展性強(qiáng),具備明暗場(chǎng),偏正,時(shí)間分辨等各種附件的升級(jí)通道
主要技術(shù)指標(biāo)