GP/TH系列高低溫試驗箱適用于航空航天、信息電子、儀器儀表、材料電工、電子產品、高等院校、科研單位等行業和領域的各種電子元氣件在高低溫或濕熱環境下檢驗其各項性能指標，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
參照標準：
-GBT10586-2006濕熱試驗箱技術條件
-GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件（溫度交變）
-GJB150.3A-2009裝備實驗室環境試驗方法第3部分：高溫試驗
-GJB150.4A-2009裝備實驗室環境試驗方法第3部分：低溫試驗
-GB/T2423.1-2016電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
-GB/T2423.2-2016電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
-GB/T2423.3-2016電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001)
-GB/T2423.4-2008電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱12h+12h循環(IEC60068-2-30:2005)
-GB/T2423.9-2006電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Cb:設備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)
-GB/T2423.22-2008電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)等