詳細摘要: 產品信息 特殊長度 該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言干燥設備 粉碎設備 混合設備 反應設備 過濾分離設備 過濾材料 滅菌設備 萃取設備 貯存設備 傳熱設備 鍋爐 塔設備 結晶設備 其它制藥設備
大塚電子(蘇州)有限公司
詳細摘要: 產品信息 特殊長度 該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: 特點 使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時間 通過測量自動溫度梯度空間,可分析出変性相轉移溫度 可測量0~90℃大范圍內的溫度 追加了大范圍的分子量測量及...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: 產品特點:使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時間 通過測量自動溫度梯度空間,可分析出変性相轉移溫度 可測量0~90℃大范圍內的溫度 追加了大范圍的分子量測...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: 產品信息 特點 使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時間 通過測量自動溫度梯度空間,可分析出変性相轉移溫度 可測量0~90℃大范圍內的溫度 追加了大范圍的分...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: 本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途,可以根據需要定制任意數量的必要功能。...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: 以非接觸方式測量晶圓等的研磨和拋光工藝,超高速、實時、高精度測量晶圓和樹脂 產品詳細信息 特點 非接觸式,非破壞性厚度測量 反射光學系統(可從一側接觸測量) 高...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: 特點: 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量, 對應CIE推薦...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: 產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策,可對應液晶line...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-15 在線留言詳細摘要: 【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(Zeta Potenti...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: 本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途,可以根據需要定制任意數量的必要功能等...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: ● nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統,實...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: 測量項目:[膜厚、折射率n、消光系數k]. 測量原理:[分光干涉法]. 測量對象:[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測量范圍:[1nm~92μm]....
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器,可以進行廣動態范圍的測量 測量...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: ●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍(0.6nm~10um),濃度范圍(0.00001%~40%)...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: 產品信息 特 點 與產線的控制信號同步 通過光纖的自由的測試系統 實現最短2ms~的光譜測量(LE-5400) 同以往的產品相比,測量、演算、評價1個周期有可到...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: 產品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: 產品信息 特點 nanoSAQLA 的特點 1個單元可輕松連續測量5個樣品 實現了 在沒有自動進樣器的情況下難以 實現的 多個樣品的 連續測量, 也可以通過改變...
產品型號:所在地:蘇州市更新時間:2024-10-14 在線留言詳細摘要: ELSZneo是ELSZ系列中的前沿產品,可以測量從稀溶液到濃溶液的 Zeta 電位和粒徑以及分子量測量。作為一項新功能,我們采用了多角度測量來提高分辨率它還可...
產品型號:ELSZneo所在地:蘇州市更新時間:2022-02-17 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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