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產品簡介                                                        

 高溫介電溫譜測試儀從專業角度來說，其實就是高溫介電溫譜測量系統。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學性能測試，系統包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜 Co-Co 圖， 機電耦合系數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。

 高溫介電溫譜測試儀是為了滿足材料在高溫環境下的介電性能測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫介電測量儀主機、高溫介電測量系統軟件、高溫測試夾具、阻抗分析儀四個組成部分。根據測量需要，還可以外接真空油泵進行真空環境的介電測量。

系統介紹                                                            

系統配置：Acer商用計算機，信號切換與控制系統，高溫儀及溫控系統，四通道夾具， 測試與數據采集軟件（軟件兼容同惠LCR表以及是德（安捷倫）E4980AL型LCR表和4294A型阻抗分析儀）；

輸入端口：四個BNC端口；

輸出端口：10個SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩定性（頻率大于1MHz時）；

溫度范圍：室溫至850℃（額定溫區，長時間使用溫度），室溫至1200℃（極限溫區，短時間使用）；

系統屏蔽：通道切換主板預埋屏蔽層設計，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與高頻測試精度和穩定性；

測試夾具：融石英與探針復合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復合結構，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端。以保證*高溫測試穩定性；

同時測量樣品數：4個；

測試頻率范圍：20Hz至10 MHz(依據配套LCR表或阻抗分析儀頻率)，基本準確度0.05%；

升溫速率：升溫速率0.1-10℃/min，測溫精度±0.1℃

測試樣品直徑：2 mm至25 mm；

樣品厚度：0.02 mm至4 mm；

單樣品測試頻率數：6個頻率測量功能；

變溫介電頻譜測試功能；

變溫阻抗測試功能。

技術特點                                                          

1、公司自主研發有高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具，可與高溫測試 平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統。

2、溫度范圍從室溫至 600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備精確的 PID 控制算法，控溫精度可到±1℃，確保溫度控制不超調。提供 7 種不同控溫方式，滿足客戶多種測試需求。

3、高溫介電測試夾具根據標準 ASTM D150 方法，采用平行板電極原理設計。電極由上 電極、下電極以及保護電極組成。上下電*有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數據更加準確可靠。

4、公司開發的高溫阻抗、介電測量系統軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與 WK6500 系列、Agilent(Keysight)Tonghui TH2826/2827/TH2810、4294A/E4980A/E4990A、Solartron

1260 LCR 測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可根據用戶提供的其他 LCR 品牌或型號完成定制需求。

5、軟件可根據實驗方案設計，通過測量 C 和 D 值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多樣變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐富多樣。

功能特點                                                          

測量精度高，精確控溫，測量頻率寬，抗交流干擾；

介電軟件功能強大，擁有完善的測量系統；

直接得出介電常數實部和虛部的比值曲線；

直接得出復阻抗實部和虛部比值曲線的Cole-Cole圖；

直接得出機械品質因數Qm；

集方案、測量、分析、數字化顯示于一體集成化設計；

觸摸屏操作，美觀設計，外觀與智能共存；

自主研發設計電極系統，重復性更好，穩定性更高；

高溫、寬頻下測量材料的介電性能；

一次只能測量一個樣品，測量準確度更高；

高溫介電測量系統與安捷倫、穩科阻抗產品*兼容；

多種溫度選型，軟件免費升級。

應用領域                                                          

新型復合絕緣擦亮

高分子絕緣材料

無機絕緣材料

有機絕緣材料

其它絕緣材料等

技術參數