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HORIBA 科學儀器事業部

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一機同時實現納米粒徑、Zeta電位和分子量的表征——SZ-100V2

來源：HORIBA 科學儀器事業部 2024年11月21日 09:24

　　產品名稱：納米粒度及Zeta電位分析儀

　　產地：日本

　　型號：SZ-100V2

　　典型用戶：天津醫藥科學研究所

　　 01 　儀器用途及應用范圍：

　　SZ-100V2 配備兩個角度檢測器，能測量各類濃度樣品(包括高濃度、稀釋及有色樣品)。其專利設計的Zeta電位樣品池，電極間距小，石墨涂層，可減小所加電壓、最小化水的電解效應，延長樣品池壽命。此外，儀器獨特的光路設計，一機即可實現納米粒徑、Zeta電位和分子量的表征，顯著節約研究成本。

　　 生命科學

　　• 蛋白質團聚的粒徑檢測

　　• 脂質體、病毒粒徑測量

　　• 蛋白質的 Zeta 電位、等電點測量

　　 半導體材料

　　• CMP 拋光液粒徑分析

　　• CMP 拋光液在線粒徑分布監控

　　• CMP 研磨液Zeta 電位分析

　　• 硅片切削液粒徑分布分析

　　 02 　產品特點：

　　• 粒徑測量原理：動態光散射法(光子相關光譜法)

　　• 粒徑測定范圍：0.3 nm ～ 10 μm

　　• Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法

　　• Zeta 電位測量范圍：-500 mV ~ +500 mV

　　• 分子量測量原理：Debye plot

　　• 分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da

　　• 測量角度：90° 、173°和17°

　　• 樣品量：12 μL ～ 1000 μL

　　 03 　相關用戶應用推薦：

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　　 04 　索取樣本、聯系報價

　　如果您想了解更多關于產品儀器信息、索要儀器報價，歡迎掃描二維碼留言，我們的工程師將會及時與您取得聯系。

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