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瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和NanoIR納米紅外光譜成像顯微鏡是一種可通過擴展多種模塊實現納米級別空間分辨率基礎上的熱力學、力學、電學和磁學分析的強大儀器系統，其中，納米機械力學頻譜分析模塊（簡稱LCR）就是一種力學分析儀器。
瑞宇科技的納米機械力學頻譜分析模塊使用特種探針對樣品表面的微區進行力學頻譜分析。當工作時，納米機械力學頻譜分析模塊會對特種探針施加變頻交流電，利用交流電在磁場中受到的洛侖茲力引導并控制探針的振動頻率。當探針的振動頻率與樣品固有振動頻率一致時，就會產生共振，并在機械頻譜上出現共振峰。根據共振峰的位置與形狀就能夠分析該微區區域樣品的剛度、粘度、摩擦力等力學信息。
瑞宇科技的納米機械力學頻譜分析模塊能夠固定探針振動頻率并在樣品選定區域內進行掃描，并記錄每個位置的振動強度，從而繪制出樣品選定區域的振動強度圖像，最終有效區分樣品表面不同力學性質的不同組分。
瑞宇科技的納米機械力學頻譜分析模塊提供直接驅動微懸臂共振的方法，更容易進行材料力學性能的定量分析。它與納米熱分析模塊（NanoTA）結合，可以提供樣品表面溫度/頻率依賴圖；并在原子力顯微鏡下提供接觸共振模式的振幅和相位成像圖。
聚苯烯低密度聚乙烯混合物LCR成像圖
主要參數：
共振頻率范圍：10kHz～20MHz
空間分辨率：10～100nm
應用：
有機物及生物材料研究
聚合物多相分離研究
界面微區研究
催化劑研發
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