瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和NanoIR納米紅外光譜成像顯微鏡是一種可通過擴展多種模塊實現納米級別空間分辨率基礎上的熱力學、力學、電學和磁學分析的強大儀器系統，其中，納米熱分析模塊（簡稱NanoTA）就是一種熱力學分析儀器。

        瑞宇科技的納米熱分析模塊使用具有特別技術的耐高溫特種探針可實現探針自加熱，對樣品表面的微區進行加熱，樣品表面微區加熱后發生熱膨脹，使得探針信號偏轉，當樣品達到臨界溫度時會發生軟化，從而造成探針偏轉信號突變，進而獲得樣品的轉變點溫度。

        利用這一功能，使用瑞宇科技的納米熱分析模塊能夠得到樣品的熔融點溫度、玻璃化轉變溫度及特定區域的溫度掃描成像圖，能夠提供異質材料如共混物/混合物/多層膜的局部熱分析鑒定，從而為研究人員提供更全面的分析信息。

        瑞宇科技的納米熱分析模塊可與原子力顯微鏡結合實現掃描熱顯微鏡（SThM）功能，從而允許納米級相對溫度成像或熱傳導率成像，

                                                                PA6PET共混物的微區納米熱分析

主要參數：

工作溫度：室溫～400℃（取決于探針）

升溫速錄：600000℃/min

溫度分辨率：0.1℃

空間分辨率：10nm～100nm

應用：

材料研究

有機物及生物材料研究

聚合物多相分離研究

晶體突變研究

事故原因分析

界面微區研究

催化劑研發